無(wú)菌導(dǎo)絲抗彎曲破壞測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述：無(wú)菌導(dǎo)絲抗彎曲破壞測(cè)試儀采用7寸威綸通單彩液晶顯示屏，中英文菜單顯示。具有公稱規(guī)格、試驗(yàn)次數(shù)、打印、測(cè)試、上行、下行、時(shí)間等參數(shù)。由鍵盤控制液晶顯示屏上的菜單，自動(dòng)對(duì)被測(cè)導(dǎo)絲進(jìn)行反向彎曲和伸直，機(jī)載打印測(cè)試結(jié)果。

所屬分類：無(wú)菌導(dǎo)絲抗彎曲破壞測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-10-10

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無(wú)菌導(dǎo)絲抗彎曲破壞測(cè)試儀

無(wú)菌導(dǎo)絲抗彎曲破壞測(cè)試儀采用7寸威綸通液晶觸控顯示屏，中英文菜單顯示。公稱規(guī)格、設(shè)定載荷、打印設(shè)定、測(cè)試、上行、下行、時(shí)間、標(biāo)定。由鍵盤與觸摸控制液晶顯示屏上的菜單，機(jī)載打印測(cè)試結(jié)果。*符合YY0450.1-2020標(biāo)準(zhǔn)中相關(guān)條款設(shè)計(jì)制造。

技術(shù)指標(biāo)：

公稱規(guī)格：根據(jù)客戶要求

圓柱體直徑：1-30MM，精度：±1%；

兩個(gè)圓柱體距離：1D-3D之間（單位MM）

設(shè)定時(shí)間:1s～60min, 客戶任意設(shè)置，精度：0.2S

儀器Z身免F依標(biāo)準(zhǔn)：規(guī)定升級(jí)服務(wù)。

設(shè)備免費(fèi)保修期為1年。

附錄G(規(guī)范性附錄)

導(dǎo)絲的抗彎曲破壞試驗(yàn)方法

G.1 原理

導(dǎo)絲的試驗(yàn)部分反復(fù)承受反向彎曲和伸直, 然后檢查損壞和涂層剝落。

G.2儀器

試驗(yàn)裝置,由兩個(gè)剛性圓柱體組成其直徑為導(dǎo)絲最大外徑D(見(jiàn)82)的20倍, 在定位時(shí)應(yīng)使兩模型之間有一為導(dǎo)絲最大外徑1倍~3倍的縫隙。見(jiàn)圖G1。用適當(dāng)?shù)幕陲L(fēng)險(xiǎn)的臨床論證對(duì)器械的每一部分進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，可使用不同直徑的圓柱體。

G.3 程序

G.3.1 末端試驗(yàn)

G311選擇導(dǎo)絲末端部分作為試驗(yàn)段試驗(yàn)段包括離芯絲末端部約5mm的芯絲部分。

G312將導(dǎo)絲末端的這部分彎曲繞在試驗(yàn)裝置(G2)的一個(gè)圓柱體上,并沿相反方向繞在第二個(gè)圓柱體上。(見(jiàn)圖G1)

G313將導(dǎo)絲從圓柱體上取下使其伸直重復(fù)彎曲與伸直程序共20個(gè)循環(huán)。檢查由彎曲過(guò)程產(chǎn)生的缺陷和損壞。另外檢查帶涂層導(dǎo)絲上涂層的剝落痕跡。

G.32導(dǎo)絲的試驗(yàn),不包括末端

選擇導(dǎo)絲上不包括鄰近端或末端的部分,進(jìn)行G312和G313的試驗(yàn)程序。

G.4 試驗(yàn)報(bào)告

試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)包括下列信息:

a) 導(dǎo)絲的識(shí)別;

b)芯絲連接點(diǎn)的任何損壞而造成的自由伸展或?qū)Ыz的任何部分分離為兩段或多段損壞的描述;

c)涂層導(dǎo)絲是否有任何涂層剝落的描述;

d)如果直徑產(chǎn)生了偏離適當(dāng)?shù)幕陲L(fēng)險(xiǎn)的臨床論證。